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OpTaliX バージョン履歴

日本語リファレンスマニュアルのバージョン履歴はこちら

Version 7.42
(2010年7月18日)
  • ガラスカタログへの硝材の追加登録
    ショット(Schott) P-LASF51, P-LASF50, P-SK58A, P-SK60, P-LAK35, P-SF68
    オハラ(Ohara) L-TIH53, L-LAH84, L-LAH85, L-LAH86, L-LAH87, L-BBH1, S-FPM2, S-LAH55V, S-LAH65V
    特殊材料(Special) LITHOSIL-Q
  • ノンシーケンシャル面の範囲に、物体面を含むことができるように拡張されました。 この結果、従来生じていたいくらかの制約は取り除かれ、完全なノンシーケンシャルモデルを 作成できるようになりました。
  • 透過率解析に関連したオプションが拡張されました。透過率の波長依存性に、 偏光依存性をあわせて出力する機能が追加されています。
  • 非球面量に関する計算結果を、Zygo社の干渉計と互換性のある形式でファイルに 保存できるようになりました。
  • コーティングに関する設計ファイルのうち、MacLeod形式(*.dds) のインポートに関して 改善がなされました。インポート中に、OpTaliXにおいて未定義の膜材料が検知された場合、 代替の材料を指定するためのダイアログが起動します。
  • グローバル参照面が、Zemaxファイルへのエクスポートに対応しました。
Version 7.36
(2010年4月18日)
=新規機能および仕様変更=
  • 多層膜コーティングの膜データを逆順に入れ替えられるようになりました。
    この操作は、入射側媒質および基板データを含む、多層膜のすべての層を入れ替えます。
  • レンズの各面に割り当てられた多層膜データは、カレント・ディレクトリから読み込まれるように 変更されました。カレント・ディレクトリに見つからない場合には、プログラム規定値として設定された 多層膜ディレクトリを検索します。
  • 新たに追加されたコマンド MAXAOI は、設定された視野およびズームポジションの全域における面 への入射角の最大値を評価・表示します。
  • 光学系に適用されるガラスカタログを明示的に特定できるように改良されました。
    1つ、あるいは複数のカタログを設定できます。
=不具合の修正=
  • Zemaxデータのインポートにおいて、"automatic"面の有効径が OpTaliX 形式に正しく変換されるように 修正されました。
  • MTFA, MTFM, MTFS コマンドの出力が、常に第一波長に対する評価結果となっていました。指定の単色波長が 正しく選択されるように修正されました。
  • 光線光源データのファイルからの読み込み安定性が向上しました。従前は、光源データの末尾に余分な行が 付加されていた場合、データの整合性に問題を生じていました。
  • 最適化(自動設計)において扱われるPV値(peak-to-valley, たとえば SPDPV, SPXPVなど)の取り扱いを修正しました。
  • 干渉実験の結果など、デフォメーション面のデータファイルをインポートする際、開口サイズのデータが 失われることがありました。この現象は、光線追跡が不能な光学系との組み合わせに関連して発生することもありましたが、 修正されました。
  • ISO標準のレンズ図面描画機能:ガラス製造メーカの名称が重複して記述されるという不具合が生じていました。
    例えば、"HIK:H-K5"の代わりに"HIKARI: HIK:H-K5"のように印字されていましたが、修正されました。
  • ズームエディタにガラス名を入力する際に、ブランクを許容するように修正されました。ブランクは、デフォルトとして 空気を意味します。以前は、明示的に "AIR"と入力しなければなりませんでした。
Version 7.30
(2010年2月1日)
=新規機能および仕様変更=
  • ショット社の新硝種 F2HT をカタログに追加しました。
  • 断面図と共に描かれる光線について、描画オプションを追加しました。詳細は、レンズ断面図の 描画ウインドウの左上、ハンマー型のアイコンをクリックするか、あるいは、レンズの描画画面で 右クリックを現れる設定ウインドウの右下端、セレクションボックスを参照してください。
  • 2光束干渉計に関する解析結果を、エクセルあるいはアスキー形式のファイル、または INTファイルに保存できるようになりました。
=不具合の修正=
  • CodeVとのファイルのインポート/エクスポート機能が改良されました。
    これまで、レンズモジュールの直後の軸上間隔が適切に変換されていませんでしたが、修正されました。
  • XY-多項式に関する光線追跡について、OpTaliX バージョン 7.24/7.25 に不具合のあることが 確認されました。XY多項式とZ座標の関連が適切に取り扱われていませんでしたが、修正されました。
  • その他、細部にわたる修正および改良を施しました。
Version 7.25
(2009年11月18日)
=新規機能および仕様変更=
  • Archer社のレンズカタログを更新しました。
=不具合の修正=
  • 照明解析用の光源モデルをビットマップ表示で適切にレンダリングされる様、修正されました。 従来は、幅と高さが1:1の矩形光源の場合のみ、正しく取り扱われていました。
  • 照明解析において、平面光源からの光線の生成機能に修正を加えました。従来版は、生成された光線の一部が 設定以下の放射輝度であるとみなされ、無視されていました。
Version 7.24
(2009年11月8日)
=新規機能および仕様変更=
  • Windows7 に対応しました。
  • アレイ面の配置が六方最密充填にも対応しました。矩形配置および六方最密配置の選択は、新設のARHコマンドを 用いて行われます。
  • 照明解析のオプションとして、光線追跡座標の範囲をレンズ系の入射瞳を基準として設定するモードを 設けました。このオプションは光学系の構成が通常からかけ離れている場合、とりわけ超広角レンズ系のように、 微小光源を出射する全光束のごく一部しかレンズ系に入射しないような系において、照明解析の精度を向上させます。
  • 像面上におけるスペクトルの線分散を求めるためのコマンド LADX, LADY が新設されました。 この機能はとりわけ、分光系の設計・評価に有効です。分散を評価するために用いる微小波長幅とともに指定します。 解析結果は μm/mm を単位として出力されます。
=不具合の修正=
  • INVコマンドで面の順序を入れ替えた際、各面に割り当てられていたコーティングのデータも入れ替わるように修正されました。 従来のバージョンでは入れ替わっていませんでした。
  • 光線追跡座標を全方位モード(OMNモード)とした際、スポットダイアグラム/波長の解析がなされなくなっていましたが 修正されました。
  • アナモフィック面の係数が、自動設計において適切に取り扱われていませんでしたが、修正されました。
  • 波面のプロット表示において、波面収差量(PV) の表記が修正されました。
  • 照明解析において、面上の輝度にガウス分布を設定した際の発生光線パターンが適切ではありませんでした。修正されました。
  • 照明解析において生じていた、放射光束の不整合が修正されました。この問題は、コマンド"SRC DIVX" および "SRC DIVY" の設定に関連しており、円錐または楕円錐状にビームが放射される代わりに、特殊な光学配置において、ごくまれに四角錐状にビームが 放射されていました。
  • 波面収差のプロットが、視野設定されたすべての物点についてなされていましたが、FACTコマンドで "有効" に設定された 物点のみをプロットするように修正されました。
  • 追跡すべき光線の決定にあたり、IMGコマンドで再設定された像面の共役関係を考慮するように改良されました。 従来は追跡光線の生成およびビネッティングの制御にあたって、IMGコマンドによる設定を考慮していませんでした。 そのため、再設定された像面よりも後方の面まで光線追跡を行った場合に生じるケラレの影響まで含めたビネッティング量の 設定がされていました。
  • 系がミラー面を含むとき、ソルブの符号が正しく反転していないことがありましたが修正されました。
  • レンズモジュールを指定した面を通常のレンズ面に変換する際、その操作を "L" から "S" への面のタイプの設定変更で 行った場合、OpTaliX内部のパラメータ更新が適切に行われていませんでした。そのため、予期しない光線追跡結果が 得られる場合がありましたが、修正されました。
  • レンズモジュール環境に材料設定を重ねた場合に、光線追跡エラーが発生していました。レンズモジュールは その概念が 数学的に定義されるべき機能であり、どのようなレンズ材料の設定がなされたとしても物理的な意味を持たないものとして機能 しなくてはなりません。そのように修正されました。
Version 7.16
(2009年7月5日)
  • マクロ言語において、READ文が使えるようになりました。 READ文を使えば、ファイルからマクロ変数にデータを読み込めます。
  • マクロ言語における OPEN文と、CLOSE文が拡張されました。 変数に代入した文字列をファイル名として扱えます。 また、変数に代入した整数を、マクロ言語中の論理ファイル番号(ユニット番号)として扱えます。
     例)
      $unit = 3
      $file = 'c:\temp\my file.txt'
      open (unit=$unit, file=$file)
  • 二光束干渉計に関する機能が追加されました。マイケルソン型、マッハツェンダー型、サニャク型に 代表される二光束干渉計の光路を定義し、光線追跡を行って、両光束の波面を重ね合わせられるように なりました。 その結果、これらの干渉計によって得られる干渉縞を生成できるようになりました。
    各干渉計の光学データ例を、Exampleライブラリに追加しました。
  • Rochester Precision Optics(RPO)社のレンズカタログを更新しました。
  • CDGM社のガラスカタログを更新しました。
Version 7.12
(2009年3月29日)
=新規機能および仕様変更=
  • China-Daheng社のレンズカタログを追加しました。
  • RIRRコマンドによって計算される立体角の計算精度が著しく向上しました。
  • データベースアイテム NRAYS が新規に追加されました。 このアイテムは、指定の画角、波長、ズームポジションにおいて追跡された光線の本数を返します。
  • 以下に示すテストチャート画像を"\optalix\images\"に追加しました。
    • カラーバー および グレーバー
    • ジーメンス・スター (Siemens star)
    • TV テストチャート
    • USAF ターゲット
    • 各種グリッド
    • RGBカラー画像
  • EIMDコマンド(広がった物体に関する解析)の結果をビットマップファイル(BMP, PCX or PNG) に保存できるように改良しました。
  • 屈折率の温度変化係数(DnDT)のデータを更新しました。オハラ社のガラスカタログ情報を更新しました。 硝子材料 B270の分散定数を更新しました。
=不具合の修正=
  • EIMDコマンドのユーザインターフェースの一部に不具合がありましたが、修正されました。
  • 公差解析のダイアログから、該当ヘルプを直接起動する機能が復活しました。
  • 公差解析のダイアログのサイズを適切に設定できるように修正しました。これまではユーザ設定に関わらず、 常に最小サイズで起動されていました。
  • 最適化エンジンとしてKT法を選択した際、従来はユーザ定義面に関わる変数(UDS変数)を取り扱えませんでしたが、 修正しました。
  • 10文字以上のファイル名をもったコーティング膜のデータを、レンズ面に割り当てることができませんでしたが、 修正されました。
  • コーティング膜の最適化において、SおよびP偏光の取り扱いが入れ替わっていました。このため偏光に対して クリティカルな設計において、期待どおりの結果を得られませんでしたが、修正されました。
  • MacLeodの薄膜設計ソフトからの膜データのインポートの際、膜厚の設定が光学的膜厚(デフォルト)ではなく、 物理的な幾何膜厚である場合にも、正しく解釈されるように改良されました。
Version 7.10
(2009年2月15日)
=新規機能および仕様変更=
  • ガラスを設計変数とする最適化プロセスにおいて、仮想ガラスから実存するカタログガラスへの置き換えを自動的に行う機能を 追加しました。 従来は、設計者が明示的に置き換えコマンドを実行しない限り、この置き換えは行われませんでした。 新機能を利用するには最適化のためのダイログボックスを開き、該当欄にチェックを入れます。
  • ガラスを設計変数とするとき、その可変範囲を定義する多角形状の境界設定の機能を、最適化ダイアログに統合しました。
  • 原器カタログに、Optimax社のデータを追加しました。
  • コーティングの特性(透過率・反射率・位相)をエクセル形式のファイルに出力できるように改良されました。
  • 照明解析の機能を実行するために必要とするメモリサイズを大幅に削減しました。 この結果、物理メモリをさほど搭載していないマシンであっても、照明解析を実行しやすくなりました。
  • ツェルニケ面の定義は、これま面のデフォメーションだけに限定されていましたが、位相のデフォメーションにも 適用できるように拡張されました。
=不具合の修正=
  • "Handbook of Optical Systems" の掲載データを収録したファイルの一部に、旧バージョンの OpTaliX でも 読み込めない書式で記述されたものがありましたが、修正されました。
  • 中心遮蔽を含む光学系において、FIEコマンドが適切に適用できない場合がありましたが、修正されました。

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